彈性化架構 
雖然半導體產(chǎn)業(yè)是一個變化快速的產(chǎn)業(yè)，但其 資產(chǎn)設備應建立在可符合長時間需求的設備之 上。Chroma3650在設計其架構時，應用先進 的規(guī)劃，具備AD/DA轉換器測試模組、ALPG記 憶體測試模組、高電壓PE輸出模組和多重掃描 鏈測試模組等等選配，以確保符合未來多年的 測試需求。

CRISP (軟體測試環(huán)境) 
架構在Windows XP作業(yè)系統(tǒng)上的Chroma 3650的 軟體測試環(huán)境CRISP(Chroma Integrated Software Plat form)，是一個結合工程開發(fā)與量產(chǎn)需求 的軟體平臺。主要包含四個部份 : 執(zhí)行控制模 組、資料分析模組、程式除錯模組以及測試機 臺管理模組。透過親切的圖形人機介面的設 計，CRISP提供多樣化的開發(fā)與除錯工具，包含 :Shmoo plot、Waveform tool、Scope tool、Pin Margin、Pattern Editor與Plan Debugger 等軟體 模組，可滿足研發(fā)/測試工程師開發(fā)程式時的需 求 ; 此外，Histogram tool 可用于重復任一測試 參數(shù)，包含時序、電壓、電流等，以評估其測試 流程之穩(wěn)定度。

在量產(chǎn)工具的部份，透過特別為操作員所設計 的OCI (Operator Control Interface)量產(chǎn)平臺，生 產(chǎn)人員可輕易地控制每個測試階段。它提供產(chǎn)品 導向的圖形介面操作，用來控制 Chroma 3650、 晶圓針測機和送料機等裝置溝通。程式設計者 可先行在Production Setup Tool視窗之下設定OCI 的各項參數(shù)，以符合生產(chǎn)環(huán)境的需求。而操 作員所需進行的工作，只是選擇 程式設計者已規(guī)劃好的流 程，即可開始量產(chǎn)，大幅 降低生產(chǎn)線上的學習的時 間。

*低價位的測試解決方案 
要配合現(xiàn)今功能日趨復雜的IC晶片，需要具備功 能強大而且多樣化的測試系統(tǒng)。為了達成具成本 效益的測試解決方案，必須藉由降低測試時間和 整體成本來達成，而非只是簡單地減少測試系統(tǒng) 的價格而已。Chroma 3650的設計即是可適用于 所有類型的應用環(huán)境，例如 : 工程驗證、晶圓測 試和成品測試。周邊設備。 Chroma 3650支援多種裝置的驅動程式介面 (TTL& GPIB ) ，可進行與晶圓針測機和送料機， 包括 SEIKO-EPSON、SHIBASOKU、MULTI-TEST、 ASECO、DAYMARC、TEL、TSK、OPUS II等等裝 置之間的溝通。

應用支援 
不管是新客戶或是現(xiàn)有客戶，Chroma 均提供廣 泛的應用支援，以確保所有的設計皆能精準地符 合使用者的需求。不管使用者要快速提升生產(chǎn) 量、把握新興市場的機會、提高生產(chǎn)力、以** 策略降低測試成本、或在尖峰負載情況下增加容 量，Chroma 位于全球的客服支援人員皆會竭盡 所能提供客戶即時解有效率的解決方案。